重慶大學| 主頁焦點| 主頁推薦| 網站地圖| 使用幫助 RSS 我要投稿

我校唐文新教授團隊成功研製像差校正自旋極化低能電子顯微系統並發表《Ultramicroscopy》封面文章

日期 : 2020-09-28
摘要
近日,我校唐文新教授團隊成功研製像差校正自旋極化低能電子顯微系統並發表《Ultramicroscopy》封面文章。該項目受國家自然科學基金委國家重大儀器專項和重慶大學中央高校基本科研業務費的共同資助。

近日,重慶大學材料科學與工程學院唐文新教授團隊研製了像差校正自旋極化低能電子顯微鏡(ac-SPLEEM),其研究成果論文“Aberration corrected spin polarized low energy electron microscope”以重慶大學為第一單位和通訊單位發表在電子顯微學頂級期刊《Ultramicroscopy》並被推送為封面文章。該項目受國家自然科學基金委國家重大儀器專項和重慶大學中央高校基本科研業務費的共同資助。

1.jpg

唐文新教授團隊聯合上海科技大學、復旦大學等國內外高校學者,研製的超快自旋極化像差校正低能電子顯微鏡,開啓並建立了原位超快高分辨表面物理化學領域新方向。該設備在驗收測試現場,磁橫向分辨率高達3 nm,比歷史發表記錄20 nm分辨率高大約7倍;同時實現超快像差校正低能電子顯微鏡(TR-ac-LEEM)在超快模式下分辨率已達3.2 nm,自旋模式下達到9nm磁性分辨率,這是首次實現超快低能電子顯微鏡並可以探測超薄磁性樣品表面。該系列探測技術的突破為超快表面科學研究提供了超高分辨的顯微手段,是未來超快科學和高密度存儲材料研發核心技術。

2.png

全文鏈接://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S030439912030070X


閲讀 : 0
曹蔚 責任編輯